精神分裂症不同亚型的脑电图对照研究

        3 讨论
        精神分裂症的病因至今仍在探讨中，大量研究证明精神分裂症存在脑的器质性改变（主要是脑室扩大，大脑皮层非特异性萎缩，侧脑室增大等)。自Carpenter提出缺陷型精神分裂症划分标准，将精神分裂症划分为缺陷型和非缺陷型后，国内研究者已研究发现缺陷型精神分裂症有更多的神经系统软体征（即非定位神经系统体征）[2]。神经系统软体征虽然无明确的定位意义，但却提示了中枢神经系统的功能不良或大脑非特异性的损害[7]。本资料结果显示，缺陷型组的EEG异常发生率明显高于非缺陷型组，二者有明显差异（P<0.01），且异常程度也相对较重，非缺陷型组表现为轻度和中度异常，而缺陷型组还有3例（6%）表现为重度异常。由此可以说明缺陷型精神分裂症的脑器质性损害及脑细胞功能损害较重，因为一般而言EEG是脑细胞功能的最直接反应[4]。两组异常EEG均表现为基本节律的慢化、波幅低、各种波形混杂、慢波多呈弥漫性分布等，且无明显的局灶性异常脑电改变。说明两组EEG异常改变无特异性，与既往研究结果一致。两组EEG总异常率为39.4%，也与文献报道的精神分裂症EEG异常率为20-60%（平均40%）[8，9]一致。结果中1例缺陷型患者的EEG表现有不稳定的痫样放电，在既往文献中也有类似报道，精神分裂症脑电图可偶见癫样放电[9]。但不能排除该病人所服药物对EEG影响的个体差异所致，有待进一步动态观察。
        总之，从以上结果看出，缺陷型精神分裂症的EEG改变在表现形式上无明显特异性，而其异常率明显高于非缺陷型精神分裂症，提示与其病理性生物学基础有关。本人认为，EEG可作为缺陷型精神分裂症神经系统软体征较多的佐证之一。由于两样本的年龄、病程、用药剂量都无明显差异，可以认为该组缺陷型精神分裂症EEG异常率较高并非因年龄、病程、用药剂量所致，提示与其病理性生物学基础有关。 
参 考 文 献
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